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連接器選擇以及電鍍
用戶在選擇連接器時，既要考慮性能要求又要考慮因素。性能上必須滿足系統(tǒng)電氣設(shè)備的要求，經(jīng)濟上必須符合價值工程要求。本文主要介紹了選擇連接器時要考慮的五個方面因素及其電鍍工藝。
2008-10-30
連接器 選擇 電鍍
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連接器選擇以及電鍍
用戶在選擇連接器時，既要考慮性能要求又要考慮因素。性能上必須滿足系統(tǒng)電氣設(shè)備的要求，經(jīng)濟上必須符合價值工程要求。本文主要介紹了選擇連接器時要考慮的五個方面因素及其電鍍工藝。
2008-10-30
連接器 選擇 電鍍
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第72屆中國電子展滬上亮相 昭示電子元器件行業(yè)逆勢增長
受次貸危機影響，1-8月我國通信設(shè)備、計算機行業(yè)利潤增速出現(xiàn)大幅下滑。國內(nèi)電子整機制造業(yè)亟需提振，從而也對基礎(chǔ)電子元器件技術(shù)提出了更高的要求。日前從即將開展的第72屆中國電子展組委會上獲悉，國內(nèi)基礎(chǔ)電子元器件增勢鼓舞，以元器件為展出重點的本屆展會保持穩(wěn)定趨勢，將有1700家展商、總計21...
2008-10-30
中國電子展 電子元器件 電子材料 集成電路 儀器儀表 電子工具 電源電池 生產(chǎn)設(shè)備 汽車電子 光電產(chǎn)品 消費電子
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第72屆中國電子展滬上亮相 昭示電子元器件行業(yè)逆勢增長
受次貸危機影響，1-8月我國通信設(shè)備、計算機行業(yè)利潤增速出現(xiàn)大幅下滑。國內(nèi)電子整機制造業(yè)亟需提振，從而也對基礎(chǔ)電子元器件技術(shù)提出了更高的要求。日前從即將開展的第72屆中國電子展組委會上獲悉，國內(nèi)基礎(chǔ)電子元器件增勢鼓舞，以元器件為展出重點的本屆展會保持穩(wěn)定趨勢，將有1700家展商、總計21...
2008-10-30
中國電子展 電子元器件 電子材料 集成電路 儀器儀表 電子工具 電源電池 生產(chǎn)設(shè)備 汽車電子 光電產(chǎn)品 消費電子
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第72屆中國電子展滬上亮相 昭示電子元器件行業(yè)逆勢增長
受次貸危機影響，1-8月我國通信設(shè)備、計算機行業(yè)利潤增速出現(xiàn)大幅下滑。國內(nèi)電子整機制造業(yè)亟需提振，從而也對基礎(chǔ)電子元器件技術(shù)提出了更高的要求。日前從即將開展的第72屆中國電子展組委會上獲悉，國內(nèi)基礎(chǔ)電子元器件增勢鼓舞，以元器件為展出重點的本屆展會保持穩(wěn)定趨勢，將有1700家展商、總計21...
2008-10-30
中國電子展 電子元器件 電子材料 集成電路 儀器儀表 電子工具 電源電池 生產(chǎn)設(shè)備 汽車電子 光電產(chǎn)品 消費電子
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ESD保護元件的對比分析及大電流性能鑒定
對于電子系統(tǒng)設(shè)計人員而言，如果沒有采取適當?shù)腅SD保護措施，所設(shè)計的電子產(chǎn)品就會有遭到損傷的可能。因此，電子系統(tǒng)設(shè)計中的一項重要課題便是確保使其能夠承受ESD的沖擊，并繼續(xù)正常工作。本文主要介紹了ESD保護方法及其分類，利用屏幕截圖和TLP進行ESD保護元件的大電流性能鑒定和不同便攜應(yīng)用的ES...
2008-10-28
ESD保護 屏幕截圖 保護元件 大電流 TVS
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ESD保護元件的對比分析及大電流性能鑒定
對于電子系統(tǒng)設(shè)計人員而言，如果沒有采取適當?shù)腅SD保護措施，所設(shè)計的電子產(chǎn)品就會有遭到損傷的可能。因此，電子系統(tǒng)設(shè)計中的一項重要課題便是確保使其能夠承受ESD的沖擊，并繼續(xù)正常工作。本文主要介紹了ESD保護方法及其分類，利用屏幕截圖和TLP進行ESD保護元件的大電流性能鑒定和不同便攜應(yīng)用的ES...
2008-10-28
ESD保護 屏幕截圖 保護元件 大電流 TVS
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太陽能設(shè)備發(fā)展情況概述
近年來光伏產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅猛，我國光伏設(shè)備已具備太陽能電池整線制造的基本能力，但高端設(shè)備仍需進口。太陽能產(chǎn)業(yè)的高速發(fā)展帶動我國光伏設(shè)備的換代升級，國產(chǎn)設(shè)備也相繼在大生產(chǎn)線應(yīng)用且發(fā)展勢頭良好。目前提高效率降低成本仍是國產(chǎn)光伏設(shè)備的進一步的發(fā)展方向。
2008-10-28
光伏設(shè)備 硅片加工 硅材料提純 提高效率降低成本
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功率開關(guān)寄生電容用于磁芯去磁檢測
本文描述了一種被稱為SOXYLESS的新技術(shù)，它無需采用輔助繞組和時間補償元件就能進行“谷點”檢測。
2008-10-28
Soxyless MOSFET 仿真 硅集成
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